Scanning tunneling mikroskop

Fra Wikipedia, den frie encyklopedi
Hopp til navigering Hopp til søk
Hovedprinsippet for STM

Avsøkende tunnelelektronmikroskop[1] (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.

Referanser[rediger | rediger kilde]

Eksterne lenker[rediger | rediger kilde]